在微波射頻領(lǐng)域,當(dāng)測(cè)試一個(gè)器件時(shí),最大的挑戰(zhàn)之一,是如何消除有害的夾具效應(yīng).端口延伸和TRL 校準(zhǔn)是補(bǔ)償校準(zhǔn)參考平面和儀器的測(cè)量平面不一致而引起的誤差的最簡(jiǎn)單方法之一. 校準(zhǔn)之后,可以利用端口延伸特性來(lái)補(bǔ)償由于增加諸如電纜.適配器或夾具所引起的延伸測(cè)量參考面的誤差.當(dāng)要求很高的測(cè)量精度,并且沒(méi)有與被測(cè)件連接...